Unsere Analysegeräte

Flying Probe Tester

Mit unserem Flying Probe Tester können wir bestückte Leiterplatten testen und Fehler analysieren. Ebenso setzen wir das Gerät zum Test hochpoliger ICs ein.

Systemvoltmeter

Unser 20 kanaliges Systemvoltmeter wird u.a. beim Funktionstest von Bauteilen und Baugruppen erfolgreich eingesetzt.

LCR Meter

Mit unserem LCR Meter können wir alle relevanten Parameter passiver Bauteile messen.

Inspektions-Mikroskop

Mit unserem Inspektionsmikroskop können wir Bauteile und Lötstellen auf Leiterplatten analysieren.

Digital Mikroskop

Unser Digitalmikroskop dient zum Analysieren und Vermessen von Bauteile mit hoher Vergrößerung.

Power-Supplies

Wir verfügen über Power Supplies für die unterschiedlichsten Prüflinge, auch bis zum 60 Ampere Netzteil.

Network-Analyser

Der Networkanalyser erlaubt uns das Bestimmen wesentlicher Parameter von Hochfrequenzbauteilen.

Curve-Tracer

Mit unserem Curvetracer können wir die Funktion und entscheidende Parameter von Einzelhalbleitern vermessen

Digital Oszilloskop

Das Digitaloszilloskop nutzen wir für funktionale Tests an Bauteilen und Baugruppen.

Temperiergerät

Mit einem Temperiergerät kühlen und erwärmen wir Bauteile während der Tests. So messen wir unter definierter Temperatur.

Infrarotkamera

Mit unserer Infrarotkamera können wir detektieren, wo Bauteile oder Baugruppe im Betrieb zu heiß werden.

Analysen-Waage

Mit einer geeigneten Spezialwaage können wir das Gewicht selbst kleinster Bauteile ermitteln.

3D Scanner

Der 3D Scanner erlaubt uns unterschiedliche Objekte abzuscannen und automatisch mit den zugehörigen Zeichnungen zu vergleichen

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 Ingenieurbüro für elektronische Prüftechnik - Inhaber Dipl.-Ing.Horst Fischer              ©Horst Fischer. Alle Rechte vorbehalten.

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